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用于集成電路制造技術的檢測圖形單元規范 現行

Specification for metrology pattern cells for integrated circuit manufacture

標準號:GB/T 16878-1997

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基本信息

標準號:GB/T 16878-1997
發布時間:1997-06-20
實施時間:1998-03-01
首發日期:1997-06-20
出版單位:中國標準出版社查看詳情>
起草人:
出版機構:中國標準出版社
標準分類: 加工專用設備
ICS分類:集成電路、微電子學
起草單位:中國科學院縮微電子中心
歸口單位:全國半導體材料和設備標準化技術委員會
發布部門:國家技術監督局
主管部門:國家標準化管理委員會

標準簡介

本規范規定若干種標準測試圖形,用以對集成電路生產中所用的微圖形設備、計量儀器和工藝進行一致的全面評估和檢測。

替代情況

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引用標準

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采標情況

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