當前位置：
首頁 >
照相機 高、低溫試驗方法
照相機 高、低溫試驗方法 修訂
High-temperature and low-temperature test method for cameras
標準號：JB/T 8250.5-1999
基本信息
標準號：JB/T 8250.5-1999
發布時間：1999-08-06
實施時間：2000-01-01
首發日期：
出版單位：機械工業出版社查看詳情>
起草人：馮曉升
出版機構：機械工業出版社
標準分類： 照相機與照相器具
ICS分類：攝影設備、投影儀
提出單位：全國照相機械標準化技術委員會
起草單位：杭州照相機械研究所
歸口單位：全國照相機械標準化技術委員會
發布部門：國家機械工業局
標準簡介
本標準視定了小型照相機等單項產品的高、低溫試驗方法。本標準通用于小型照相機的高、低溫試驗，也適用于快門等單項產品的高、低溫試驗.
推薦檢測機構
申請入駐
暫未檢測到相關機構，邀您申請入駐~
推薦認證機構
申請入駐
暫未檢測到相關機構，邀您申請入駐~
推薦培訓機構
申請入駐
暫未檢測到相關機構，邀您申請入駐~
? 2018 北京寰標偉業科技發展有限公司版權所有并保留所有權利。
ICP備案證書號：京ICP備17031081號-1 客服電話：010-62050868
