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表面污染測定 第2部分:氚表面污染

Evaluation of surface contamination—Part 2:Tritium surface contamination
標(biāo)準(zhǔn)號:GB/T 14056.2-2011
基本信息
標(biāo)準(zhǔn)號:GB/T 14056.2-2011
發(fā)布時(shí)間:2011-06-16
實(shí)施時(shí)間:2011-12-01
首發(fā)日期:1994-09-24
出版單位:中國標(biāo)準(zhǔn)出版社查看詳情>
起草人:陳慧莉、張延生
出版機(jī)構(gòu):中國標(biāo)準(zhǔn)出版社
標(biāo)準(zhǔn)分類: 輻射防護(hù)檢測與評價(jià)
ICS分類:輻射防護(hù)
提出單位:中國核工業(yè)集團(tuán)公司
起草單位:核工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)化研究所、中國輻射防護(hù)研究院
歸口單位:全國核能標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)(SAC/TC 58)
發(fā)布部門:中華人民共和國國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局 中國國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)
主管部門:全國核能標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)(SAC/TC 58)
標(biāo)準(zhǔn)簡介
本部分規(guī)定了氚表面污染的測定方法和程序。本部分適用于設(shè)備、設(shè)施、放射性物質(zhì)容器和密封源表面的氚表面污染測定。本部分不適用于皮膚和工作服氚表面污染的測定。
標(biāo)準(zhǔn)摘要
GB/T14056《表面污染測定》包括下列三個(gè)部分: ———第1部分:β發(fā)射體(Eβmax>0.15MeV)和α發(fā)射體; ———第2部分:氚表面污染; ———第3部分:同質(zhì)異能躍遷和電子俘獲發(fā)射體、低能β發(fā)射體(Eβmax<0.15MeV)。 本部分是GB/T14056的第2部分。 本部分使用重新起草法修改采用ISO7503-2:1988《表面污染測定 第2部分:氚表面污染》。 本部分與ISO7503-2:1988的技術(shù)性差異及其原因如下: ———增加引用了GB18871(見4.2.2),這是為了適合我國國情。 本部分代替GB/T15222—1994《表面污染測定 第2部分:氚表面污染》。 本部分與GB/T15222—1994相比主要變化如下: a) 按照現(xiàn)行的國家標(biāo)準(zhǔn)編寫規(guī)則對編寫格式進(jìn)行了修改; b) 對少數(shù)條文的表述進(jìn)行了修改完善; c) 為了便于使用,將GB/T15222—1994與GB/T14056—1993整合成為一項(xiàng)標(biāo)準(zhǔn)的兩個(gè)部分。 本部分由中國核工業(yè)集團(tuán)公司提出。 本部分由全國核能標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)(SAC/TC58)歸口。 本部分起草單位:核工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)化研究所、中國輻射防護(hù)研究院。 本部分主要起草人:陳慧莉、張延生。 本部分所代替標(biāo)準(zhǔn)的歷次版本發(fā)布情況為: ———GB/T15222—1994。 |
標(biāo)準(zhǔn)目錄
前言 Ⅲ 1 范圍 1 2 規(guī)范性引用文件 1 3 術(shù)語和定義 1 4 測定表面污染的方法 2 5 污染測量的記錄 4 參考文獻(xiàn) 5 |
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