本部分（本文件，如按2020）描述了AAS、AFS、ICP-OES和ICP-MS測定聚合物、金屬和電子件中鉛、鎘和鉻的方法。本部分規(guī)定了電子電氣產(chǎn)品中鎘（Cd）、鉛（Pb）和鉻（Cr）含量的測定。它涵蓋了三種類型的基體：聚合物/聚合物組件、金屬及合金和電子件。　　本部分中的樣品是指處理和檢測的對象。樣品及其獲得方式由實(shí)施檢測的機(jī)構(gòu)確定。為檢測電子產(chǎn)品中限用物質(zhì)的含量，如何從中獲得其代表性樣品的進(jìn)一步指南見IEC 62321-2。樣品的選擇和/或測定可能影響對檢測結(jié)果的解釋。　本部分規(guī)定了電子電氣產(chǎn)品中鎘（Cd）、鉛（Pb）和鉻（Cr）含量的測定方法，介紹了四種儀器的檢測方法（AAS、AFS、ICP-OES、ICP-MS）以及幾種樣品化學(xué)前處理方法（樣品溶液的制備），可以從中選擇最合適的方法。由于聚合物和電子件中的六價(jià)鉻有時(shí)難以測定，本部分描述了除AFS以外的聚合物和電子件中鉻的篩選方法。鉻的分析能提供材料中是否存在六價(jià)鉻的信息。然而，元素分析不能選擇性地測定六價(jià)鉻，它測定的是樣品中的總鉻含量。如果總鉻含量超過六價(jià)鉻的限量，則應(yīng)進(jìn)行六價(jià)鉻的確證檢測。本部分所述的ICP-OES和AAS法在測定含量高于10 mg/kg Pb、Cd和Cr；或者ICP-MS法測定高于0.1 mg/kg的Pb、Cd；或者AFS法測定高于10 mg/kg的Pb，高于1.5 mg/kg的Cd時(shí)，可獲得最好的準(zhǔn)確度和精密度。這些方法也可以測試更高含量的樣品。　　因?yàn)椴牧戏€(wěn)定性的關(guān)系，本部分不適用于含多氟聚合物的樣品。如果在分析過程中使用硫酸，則存在Pb損失的風(fēng)險(xiǎn)，從而會(huì)得到錯(cuò)誤的偏低的分析值。此外，因?yàn)榭赡芨蓴_Cd的還原，硫酸和氫氟酸不適合于原子熒光光譜法測定Cd。樣品的溶解過程存在局限性和風(fēng)險(xiǎn)，例如可能發(fā)生目標(biāo)物或其他元素的沉淀，在這種情況下，殘留物必須單獨(dú)檢查或用其他方法溶解，然后與測試樣品溶液合并。

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