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硅（鋰）X射線探測(cè)器系統(tǒng) 現(xiàn)行

Si（Li）X-ray detector system

標(biāo)準(zhǔn)號(hào)：GB/T 13179-2008

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基本信息

標(biāo)準(zhǔn)號(hào)：GB/T 13179-2008
發(fā)布時(shí)間：2008-07-02
實(shí)施時(shí)間：2009-04-01
首發(fā)日期：1991-04-11
出版單位：中國(guó)標(biāo)準(zhǔn)出版社查看詳情>
起草人：殷國(guó)利
出版機(jī)構(gòu)：中國(guó)標(biāo)準(zhǔn)出版社
標(biāo)準(zhǔn)分類(lèi)： 核探測(cè)器
ICS分類(lèi)：核能工程
提出單位：中國(guó)核工業(yè)集團(tuán)公司
起草單位：中核（北京）核儀器廠
歸口單位：全國(guó)核儀器儀表標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)
發(fā)布部門(mén)：中華人民共和國(guó)國(guó)家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局 中國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)
主管部門(mén)：全國(guó)核儀器儀表標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)

標(biāo)準(zhǔn)簡(jiǎn)介

本標(biāo)準(zhǔn)參照了IEC 60759:1983《半導(dǎo)體Ｘ 射線能譜儀標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試程序》。本標(biāo)準(zhǔn)代替GB/T 13179-1991《硅（鋰）Ｘ 射線探測(cè)器系統(tǒng)》。本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了硅（鋰）X射線探測(cè)器系統(tǒng)的產(chǎn)品分類(lèi)、技術(shù)要求、試驗(yàn)方法和檢測(cè)規(guī)則等。本標(biāo)準(zhǔn)適用于帶有液氮貯存容器的室內(nèi)用硅（鋰）X射線探測(cè)器系統(tǒng)，但不適用于掃描電鏡的、便攜式或非液氮冷卻硅（鋰）X射線探測(cè)器系統(tǒng)。

標(biāo)準(zhǔn)摘要

本標(biāo)準(zhǔn)參照了IEC60759:1983《半導(dǎo)體X 射線能譜儀標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試程序》。
本標(biāo)準(zhǔn)代替GB/T13179-1991《硅(鋰)X 射線探測(cè)器系統(tǒng)》。
本標(biāo)準(zhǔn)與GB/T13179-1991相比主要差異如下:
---增加了硅(鋰)X 射線探測(cè)器系統(tǒng)和峰谷比等19個(gè)術(shù)語(yǔ)以及犆c等12個(gè)符號(hào)(見(jiàn)本標(biāo)準(zhǔn)第3章);
---產(chǎn)品的特征代號(hào)增加了兩位表示靈敏體直徑(見(jiàn)本標(biāo)準(zhǔn)的4.1);
---在表1硅(鋰)X 射線探測(cè)器系統(tǒng)產(chǎn)品規(guī)格表中,增加了一欄靈敏直徑的條目(見(jiàn)本標(biāo)準(zhǔn)的4.2);
---表1中的能量分辨率每檔均降低5eV(見(jiàn)本標(biāo)準(zhǔn)的4.2);
---充實(shí)了試驗(yàn)方法的內(nèi)容(見(jiàn)本標(biāo)準(zhǔn)第6章)。
本標(biāo)準(zhǔn)附錄A 為資料性附錄。
本標(biāo)準(zhǔn)由中國(guó)核工業(yè)集團(tuán)公司提出。
本標(biāo)準(zhǔn)由全國(guó)核儀器儀表標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)歸口。
本標(biāo)準(zhǔn)起草單位:中核(北京)核儀器廠。
本標(biāo)準(zhǔn)主要起草人:殷國(guó)利。
本標(biāo)準(zhǔn)所替代標(biāo)準(zhǔn)的歷次版本發(fā)布情況為:GB/T13179-1991 。

標(biāo)準(zhǔn)目錄

前言Ⅰ
1 范圍1
2 規(guī)范性引用文件1
3 術(shù)語(yǔ)和定義以及符號(hào)1
4 產(chǎn)品分類(lèi)3
5 技術(shù)要求5
6 試驗(yàn)方法6
7 檢驗(yàn)規(guī)則15
8 標(biāo)識(shí)、包裝、運(yùn)輸、貯存16
附錄A(資料性附錄) 從X 能量分辨率計(jì)算電噪聲近似值的方法18
參考文獻(xiàn)19
圖1 端帽尺寸圖4
圖2 總體外型結(jié)構(gòu)圖5
圖3 被測(cè)特性的基本測(cè)量系統(tǒng)7
圖4 典型的噪聲測(cè)量脈沖幅度譜8
圖5 用示波器和均方根電壓表測(cè)噪聲的測(cè)量系統(tǒng)9
圖6 線性的測(cè)量和表示13
圖7 溫度效應(yīng)的測(cè)量系統(tǒng)(以能譜儀為例) 14
表1 硅(鋰)X 射線探測(cè)器系統(tǒng)產(chǎn)品規(guī)格表4
表2 (真空)冷室及端帽分類(lèi)5
表3 不同靈敏面積探測(cè)器的峰谷比要求6
表4 參考條件和標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)條件6
表5 測(cè)量常用放射源10
表6 檢驗(yàn)項(xiàng)目分類(lèi)及要求16
表7 抽樣方案表16

替代情況

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