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無損檢測儀器 線陣列渦流探頭

Non-destructive testing instruments — Eddy current line array probe
標(biāo)準(zhǔn)號:JB/T 11279-2012
基本信息
標(biāo)準(zhǔn)號:JB/T 11279-2012
發(fā)布時(shí)間:2012-05-24
實(shí)施時(shí)間:2012-11-01
首發(fā)日期:
出版單位:機(jī)械工業(yè)出版社查看詳情>
起草人:
出版機(jī)構(gòu):機(jī)械工業(yè)出版社
標(biāo)準(zhǔn)分類: 超聲波與聲放射探傷儀器
ICS分類:無損檢測
起草單位:愛德森(廈門)電子有限公司、國核電站運(yùn)行服務(wù)技術(shù)公司、深圳華測檢測技術(shù)股份有限公司等
歸口單位:全國試驗(yàn)機(jī)標(biāo)委會
發(fā)布部門:中華人民共和國工業(yè)和信息化部
標(biāo)準(zhǔn)簡介
本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了線陣列渦流探頭的技術(shù)要求、性能測試、檢驗(yàn)規(guī)則等內(nèi)容。本標(biāo)準(zhǔn)適用于高頻2MHz,低頻50kHz的線陣列渦流探頭。
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