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透射電子顯微鏡 放大率測(cè)試方法

標(biāo)準(zhǔn)號(hào):JB/T 5584-1991
基本信息
標(biāo)準(zhǔn)號(hào):JB/T 5584-1991
發(fā)布時(shí)間:1991-07-16
實(shí)施時(shí)間:1992-07-01
首發(fā)日期:
出版單位:機(jī)械工業(yè)出版社查看詳情>
起草人:
作廢日期:2017-05-12
出版機(jī)構(gòu):機(jī)械工業(yè)出版社
標(biāo)準(zhǔn)分類: 電子光學(xué)與其他物理光學(xué)儀器
提出單位:上海光學(xué)儀器研究所
起草單位:上海電子光學(xué)技術(shù)研究所
歸口單位:上海光學(xué)儀器研究所
發(fā)布部門:中華人民共和國(guó)機(jī)械電子工業(yè)部
標(biāo)準(zhǔn)簡(jiǎn)介
本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了透射電子顯微鏡(以下簡(jiǎn)稱電鏡)放大率測(cè)試的技術(shù)要求、測(cè)試用樣品、設(shè)備和測(cè)試方法。本標(biāo)準(zhǔn)適用于電鏡放大率測(cè)試。
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