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半導(dǎo)體器件機(jī)械和氣候試驗(yàn)方法 已作廢

Mechanical and climatic test methods for semiconductor devices

標(biāo)準(zhǔn)號(hào)：GB/T 4937-1995

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基本信息

標(biāo)準(zhǔn)號(hào)：GB/T 4937-1995
發(fā)布時(shí)間：1995-01-02
實(shí)施時(shí)間：1996-08-01
首發(fā)日期：1985-02-06
出版單位：中國(guó)標(biāo)準(zhǔn)出版社查看詳情>
起草人：
作廢日期：2007-02-01
出版機(jī)構(gòu)：中國(guó)標(biāo)準(zhǔn)出版社
標(biāo)準(zhǔn)分類： 半導(dǎo)體分立器件綜合
ICS分類：半導(dǎo)體器件
起草單位：上海市電子儀表計(jì)量測(cè)試所
歸口單位：全國(guó)半導(dǎo)體器件標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)
發(fā)布部門：國(guó)家技術(shù)監(jiān)督局
主管部門：信息產(chǎn)業(yè)部（電子）

標(biāo)準(zhǔn)簡(jiǎn)介

本標(biāo)準(zhǔn)列出了適用于半導(dǎo)體器件(分立器件和集成電路)的試驗(yàn)方法。使用時(shí)可從中進(jìn)行選擇。對(duì)于非空腔器件，可以要求補(bǔ)充的試驗(yàn)方法。

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