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電子元器件結構陶瓷材料性能測試方法 第4部分：介電常數和介質損耗角正切值的測試方法 現行

Test methods for properties of structure ceramic used in electronic component and device—Part 4:Test method for permittivity and dielectric loss angle tangent value

標準號：GB/T 5594.4-2015

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基本信息

標準號：GB/T 5594.4-2015
發布時間：2015-05-15
實施時間：2016-01-01
首發日期：
出版單位：中國標準出版社查看詳情>
起草人：曾桂生、李曉英、薛曉梅
出版機構：中國標準出版社
標準分類： 電子技術專用材料
ICS分類：  31-030
提出單位：中華人民共和國工業和信息化部
起草單位：中國電子科技集團公司第十二研究所、中國電子技術標準化研究院、北京七星飛行電子有限公司
歸口單位：中國電子技術標準化研究院
發布部門：中華人民共和國國家質量監督檢驗檢疫總局 中國國家標準化管理委員會
主管部門：中國電子技術標準化研究院

標準簡介

GB/T 5594的本部分規定了裝置零件、真空電子器件、電阻基體、半導體及集成電路等基片等用電子陶瓷材料介電常數和介質損耗角正切值的測試方法。本部分適用于裝置零件、真空電子器件、電阻基體、半導體及集成電路基片等用電子陶瓷材料在頻率為1MHz，溫度從室溫至500℃條件下的介電常數和介質損耗角正切值的測定。

標準摘要

GB/T 5594《電子元器件結構陶瓷材料性能測試方法》分為以下部分：
——氣密性測試方法（GB/T 5594.1）；
——楊氏彈性模量 泊松比測試方法（GB/T 5594.2）；
——第3部分：平均線膨脹系數測試方法（GB/T 5594.3）；
——第4部分：介電常數介質損耗角正切值測試方法（GB/T 5594.4）；
——體積電阻率測試方法（GB/T 5594.5）；
——第6部分：化學穩定性測試方法（GB/T 5594.6）；
——第7部分：透液性測定方法（GB/T 5594.7）；
——第8部分：顯微結構測定方法（GB/T 5594.8）；
——電擊穿強度測試方法（GB/T 5594.9）。
本部分為GB/T 5594的第4部分。
本部分按照GB/T 1.1-2009給出的規則起草。
本部分代替GB/T 5594.4-1985《電子元器件結構陶瓷材料性能測試方法 介電常數介質損耗角正切值的測試方法》。
本部分與GB/T 5594.4-1985相比，主要有下列變化：
——標準名稱改為：“電子元器件結構陶瓷材料性能測試方法 第4部分：介電常數和介質損耗角正切值測試方法”；
——增加了4.1介電常數測試和計算；
——刪除了原標準測試夾具類型示意圖中：a.尖形電極；b.尖對平板形電極。
請注意本文件的某些內容可能涉及專利。本文件的發布機構不承擔識別這些專利的責任。
本部分由中華人民共和國工業和信息化部提出。
本部分由中國電子技術標準化研究院歸口。
本部分起草單位：中國電子科技集團公司第十二研究所、中國電子技術標準化研究院、北京七星飛行電子有限公司。
本部分主要起草人：曾桂生、李曉英、薛曉梅。
本部分所代替標準的歷次版本發布情況為：
——GB/T 5594.4-1985。

替代情況

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引用標準

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本標準相關公告

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采標情況

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