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表面化學分析 俄歇電子能譜和X射線光電子能譜 實驗測定的相對靈敏度因子在均勻材料定量分析中的使用指南 現行

Surface chemical analysis—Auger electron spectroscopy and X-ray photoelectron spectroscopy—Guide to the use of experimentally determined relative sensitivity factors for the quantitative analysis of homogeneous materials

標準號：GB/T 30702-2014

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基本信息

標準號：GB/T 30702-2014
發布時間：2014-06-09
實施時間：2014-12-01
首發日期：
出版單位：中國標準出版社查看詳情>
起草人：吳正龍
出版機構：中國標準出版社
標準分類： 基礎標準與通用方法
ICS分類：化學分析
提出單位：全國微束分析標準化技術委員會(SAC/TC38)
起草單位：北京師范大學分析測試中心
歸口單位：全國微束分析標準化技術委員會(SAC/TC38)
發布部門：中華人民共和國國家質量監督檢驗檢疫總局 中國國家標準化管理委員會
主管部門：國家標準化管理委員會

標準簡介

本標準規定了在俄歇電子能譜和 X 射線光電子能譜均勻材料定量分析中相對靈敏度因子的實驗測量和使用指南。

標準摘要

本標準按照 GB/T1.1—2009給出的規則起草。
本標準采用翻譯法等同采用ISO18118:2004《表面化學分析 俄歇電子能譜和 X射線光電子能譜實驗測定的相對靈敏度因子在均勻材料定量分析中的使用指南》。
與本標準中規范性引用的國際文件有一致性對應關系的我國文件如下:
———GB/T22461—2008 表面化學分析 詞匯(ISO18115:2001,IDT);
———GB/T21006—2007 表面化學分析 X 射線光電子能譜儀和俄歇電子能譜儀 強度標線性(ISO21270:2004,IDT)。
本標準由全國微束分析標準化技術委員會(SAC/TC38)提出并歸口。
本標準負責起草單位:北京師范大學分析測試中心。
本標準主要起草人:吳正龍。

替代情況

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引用標準

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本標準相關公告

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采標情況

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