
Digital addressable lighting interface—Part 202:Particular requirements for control gear—Self-contained emergency lighting(device type 1)
標(biāo)準(zhǔn)號(hào):GB/T 30104.202-2013
基本信息
標(biāo)準(zhǔn)號(hào):GB/T 30104.202-2013
發(fā)布時(shí)間:2013-12-17
實(shí)施時(shí)間:2014-11-01
首發(fā)日期:
出版單位:中國(guó)標(biāo)準(zhǔn)出版社查看詳情>
起草人:李自力、吳文斌、鄧根成、區(qū)志楊、柯建鋒、趙秀榮、江姍、段彥芳
出版機(jī)構(gòu):中國(guó)標(biāo)準(zhǔn)出版社
標(biāo)準(zhǔn)分類: 燈具附件
ICS分類:
29.140.50;29.140.99
提出單位:中國(guó)輕工業(yè)聯(lián)合會(huì)
起草單位:廣東產(chǎn)品質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)研究院、廣州廣日電氣設(shè)備有限公司、中山市古鎮(zhèn)鎮(zhèn)生產(chǎn)力促進(jìn)中心、佛山市華全電氣照明有限公司、浙江上光照明有限公司、北京電光源研究所
歸口單位:全國(guó)照明電器標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)(SAC/TC 224)
發(fā)布部門:中華人民共和國(guó)國(guó)家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局 中國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)
主管部門:全國(guó)照明電器標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)(SAC/TC 224)
標(biāo)準(zhǔn)簡(jiǎn)介
GB/T30104的本部分規(guī)定了與自容式應(yīng)急照明相關(guān)的、使用交流/直流電源供電的電子控制裝置的數(shù)字信號(hào)控制協(xié)議和測(cè)試程序。注:該標(biāo)準(zhǔn)中的試驗(yàn)均為型式試驗(yàn),不包括生產(chǎn)過(guò)程中單個(gè)控制裝置的試驗(yàn)要求。
標(biāo)準(zhǔn)摘要
GB/T30104《數(shù)字可尋址照明接口》分為13個(gè)部分: ———第101部分:一般要求 系統(tǒng); ———第102部分:一般要求 控制裝置; ———第103部分:一般要求 控制設(shè)備; ———第201部分:控制裝置的特殊要求 熒光燈(設(shè)備類型0); ———第202部分:控制裝置的特殊要求 自容式應(yīng)急照明(設(shè)備類型1); ———第203部分:控制裝置的特殊要求 放電燈(熒光燈除外)(設(shè)備類型2); ———第204部分:控制裝置的特殊要求 低壓鹵鎢燈(設(shè)備類型3); ———第205部分:控制裝置的特殊要求 白熾燈電源電壓控制器(設(shè)備類型4); ———第206部分:控制裝置的特殊要求 數(shù)字信號(hào)轉(zhuǎn)換成直流電壓(設(shè)備類型5); ———第207部分:控制裝置的特殊要求 LED模塊(設(shè)備類型6); ———第208部分:控制裝置的特殊要求 開關(guān)功能(設(shè)備類型7); ———第209部分:控制裝置的特殊要求 顏色控制(設(shè)備類型8); ———第210部分:控制裝置的特殊要求 程序裝置(設(shè)備類型9)。 本部分為GB/T30104的第202部分。本部分按照GB/T1.1—2009和GB/T20000.2—2009給出的規(guī)則起草。本部分使用翻譯法等同采用IEC62386-202:2009《數(shù)字可尋址照明接口 第202部分:控制裝置的特殊要求 自容式應(yīng)急照明(設(shè)備類型1)》。本部分由中國(guó)輕工業(yè)聯(lián)合會(huì)提出。本部分由全國(guó)照明電器標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)(SAC/TC224)歸口。本部分起草單位:廣東產(chǎn)品質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)研究院、廣州廣日電氣設(shè)備有限公司、中山市古鎮(zhèn)鎮(zhèn)生產(chǎn)力促進(jìn)中心、佛山市華全電氣照明有限公司、浙江上光照明有限公司、北京電光源研究所。本部分主要起草人:李自力、吳文斌、鄧根成、區(qū)志楊、柯建鋒、趙秀榮、江姍、段彥芳。 |
標(biāo)準(zhǔn)目錄
目 次 前言 引言 1 范圍 1 2 規(guī)范性引用文件 1 3 術(shù)語(yǔ)和定義 1 4 一般要求 2 5 電氣規(guī)范 3 6 接口電源 3 7 傳輸協(xié)議結(jié)構(gòu) 3 8 定時(shí) 3 9 操作方法 3 10 變量聲明 6 11 指令定義 7 12 測(cè)試程序 16 附錄A (資料性附錄) 實(shí)例 91 參考文獻(xiàn) 94 圖1 各種光度等級(jí)定義示例 4 圖2 操作模式 5 圖3 應(yīng)用擴(kuò)展控制/配置指令序列舉例 9 圖4 特征測(cè)試流程 17 圖5 重置測(cè)試流程 20 圖6 100ms超時(shí)測(cè)試流程 22 圖7 中間指令測(cè)試流程 24 圖8 固定存儲(chǔ)器測(cè)試流程 26 圖9 開通和關(guān)斷測(cè)試流程 29 圖10 漸變關(guān)斷測(cè)試流程 30 圖11 物理地址分配測(cè)試流程 31 圖12 查詢燈上電測(cè)試流程 33 圖13 休止測(cè)試流程 34 圖14 抑制測(cè)試流程 36 圖15 啟動(dòng)/停止功能測(cè)試測(cè)試流程 37 圖16 功能測(cè)試故障測(cè)試流程 38 圖17 功能測(cè)試請(qǐng)求待定測(cè)試流程 40 圖18 啟動(dòng)/停止持續(xù)時(shí)間測(cè)試測(cè)試流程 41 圖19 持續(xù)時(shí)間測(cè)試故障測(cè)試流程 42 圖20 持續(xù)時(shí)間測(cè)試請(qǐng)求待定測(cè)試流程 44 圖21 并行測(cè)試測(cè)試流程 46 圖22 燈計(jì)時(shí)器測(cè)試流程 47 圖23 停止待定測(cè)試測(cè)試流程 48 圖24 在DTR存入應(yīng)急等級(jí)測(cè)試流程 49 圖25 應(yīng)急等級(jí)vs.最小/最大測(cè)試流程 51 圖26 存入測(cè)試定時(shí)測(cè)試流程 53 圖27 執(zhí)行自動(dòng)測(cè)試測(cè)試流程 55 圖28 存入測(cè)試執(zhí)行超時(shí)測(cè)試流程 57 圖29 存入延長(zhǎng)時(shí)間測(cè)試流程 59 圖30 啟動(dòng)鑒別測(cè)試流程 60 圖31 接口故障測(cè)試流程 61 圖32 查詢電池充電測(cè)試流程 62 圖33 查詢布線型抑制測(cè)試流程 63 圖34 查詢布線型開關(guān)式電源測(cè)試流程 64 圖35 查詢物理選擇測(cè)試流程 65 圖36 休止:應(yīng)用擴(kuò)展指令序列測(cè)試流程 67 圖37 抑制和測(cè)試:應(yīng)用擴(kuò)展指令序列測(cè)試流程 69 圖38 重置功能完成標(biāo)志:應(yīng)用擴(kuò)展指令序列測(cè)試流程 71 圖39 重置持續(xù)時(shí)間測(cè)試完成標(biāo)志:應(yīng)用擴(kuò)展指令序列測(cè)試流程 73 圖40 配置:啟用設(shè)備類型1后的其他指令測(cè)試流程 375 圖41 配置:100ms間隔測(cè)試流程 77 圖42 配置:中間指令測(cè)試流程 79 圖43 查詢:啟用設(shè)備類型1后的其他指令測(cè)試流程 80 圖44 啟動(dòng)鑒別:應(yīng)用擴(kuò)展指令流程測(cè)試流程 82 圖45 擴(kuò)展重置測(cè)試流程 84 圖46 擴(kuò)展固定存儲(chǔ)器測(cè)試流程 86 圖47 恢復(fù)出廠設(shè)置測(cè)試流程 88 圖48 預(yù)留DTR選擇功能值測(cè)試流程 89 圖49 查詢擴(kuò)展版本號(hào)測(cè)試流程 90 圖A.1 持續(xù)時(shí)間測(cè)試流程實(shí)例 91 圖A.2 功能測(cè)試和持續(xù)時(shí)間測(cè)試定時(shí)程序 92 表1 附加變量聲明 6 表2 擴(kuò)展指令設(shè)置應(yīng)用集一覽表 15 表3 應(yīng)急控制裝置的類型 16 表4 配置指令測(cè)試流程列表 18 表5 重置測(cè)試流程的參數(shù) 19 表6 100ms超時(shí)測(cè)試流程的參數(shù) 21 表7 中間指令測(cè)試流程的參數(shù) 23 表8 固定存儲(chǔ)器測(cè)試流程的參數(shù) 25 表9 電弧功率控制指令測(cè)試流程列表 27 表10 開通和關(guān)斷測(cè)試流程的參數(shù) 28 表11 漸變關(guān)斷測(cè)試流程的參數(shù) 29 表12 查詢和預(yù)留指令測(cè)試流程列表 32 表13 抑制測(cè)試流程參數(shù) 35 表14 功能測(cè)試故障測(cè)試流程參數(shù) 38 表15 功能測(cè)試請(qǐng)求待定測(cè)試流程參數(shù) 39 表16 持續(xù)時(shí)間測(cè)試請(qǐng)求待定測(cè)試流程的參數(shù) 43 表17 并行測(cè)試測(cè)試流程參數(shù) 45 表18 在DTR存入應(yīng)急等級(jí)測(cè)試流程參數(shù) 48 表19 應(yīng)急等級(jí).最小/最大測(cè)試流程參數(shù) 50 表20 存入測(cè)試定時(shí)測(cè)試流程參數(shù) 52 表21 執(zhí)行自動(dòng)測(cè)試測(cè)試流程參數(shù) 54 表22 存入測(cè)試執(zhí)行超時(shí)測(cè)試流程參數(shù) 56 表23 存入延長(zhǎng)時(shí)間測(cè)試流程參數(shù) 58 表24 休止:應(yīng)用擴(kuò)展指令序列測(cè)試流程參數(shù) 66 表25 抑制和測(cè)試:應(yīng)用擴(kuò)展指令序列測(cè)試流程參數(shù) 68 表26 重置功能完成標(biāo)志:應(yīng)用擴(kuò)展指令序列測(cè)試流程參數(shù) 70 表27 重置持續(xù)時(shí)間測(cè)試完成標(biāo)志:應(yīng)用擴(kuò)展指令序列測(cè)試流程參數(shù) 72 表28 配置:啟用設(shè)備類型1后的其他指令測(cè)試流程參數(shù) 74 表29 配置:100ms間隔測(cè)試流程參數(shù) 76 表30 配置:中間指令測(cè)試流程參數(shù) 78 表31 查詢:啟用設(shè)備類型1后的其他指令測(cè)試流程參數(shù) 80 表32 啟動(dòng)鑒別:應(yīng)用擴(kuò)展指令序列測(cè)試流程參數(shù) 81 表33 擴(kuò)展重置測(cè)試流程參數(shù) 83 表34 擴(kuò)展固定存儲(chǔ)器測(cè)試流程參數(shù) 85 表35 恢復(fù)出廠設(shè)置測(cè)試流程參數(shù) 87 |
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