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納米技術 納米顆粒尺寸測量 原子力顯微術
納米技術 納米顆粒尺寸測量 原子力顯微術 現行
Nanotechnology—Test method for size of nanoparticles—Atomic force microscopy
標準號：GB/T 33714-2017
基本信息
標準號：GB/T 33714-2017
發布時間：2017-05-12
實施時間：2017-12-01
首發日期：
出版單位：中國標準出版社查看詳情>
起草人：朱曉陽、楊延蓮、高潔、何丹農、朱君、周素紅、張迎
出版機構：中國標準出版社
標準分類： 基礎標準與通用方法
ICS分類：試驗條件和規程綜合
起草單位：國家納米科學中心、納米技術及應用國家工程研究中心、北京粉體技術協會
歸口單位：全國納米技術標準化技術委員會(SAC/TC 279)
發布部門：中華人民共和國國家質量監督檢驗檢疫總局 中國國家標準化管理委員會
主管部門：中國科學院
標準簡介
本標準規定了用原子力顯微術(Atomic force microscopy，簡稱AFM)測量納米顆粒高度來表征納米顆粒尺寸的方法。?本標準適用于分散在平整襯底表面上的納米顆粒測量。
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