當前位置：
首頁 >
納米粉末粒度分布的測定X 射線小角散射法
納米粉末粒度分布的測定X 射線小角散射法 現行
Nanometer powder—Determinaiton of particle size distribution—Small angle X-ray
標準號：GB/T 13221-2004
基本信息
標準號：GB/T 13221-2004
發布時間：2004-09-29
實施時間：2005-04-01
首發日期：1991-10-05
出版單位：中國標準出版社查看詳情>
起草人：張晉遠、鄭毅、柳春蘭、方建峰、朱瑞珍、金成海、張憲銘
出版機構：中國標準出版社
標準分類： X射線、磁粉、熒光及其他探傷儀器
ICS分類：粒度分析、篩分
提出單位：中國有色金屬工業協會
起草單位：鋼鐵研究總院
歸口單位：全國有色金屬標準化技術委員會
發布部門：中華人民共和國國家質量監督檢驗檢疫總局 中國國家標準化管理委員會
主管部門：中國有色金屬工業協會
標準簡介
本標準規定了利用X射線小角散射效應測定納米粉末粒度分布的方法。本標準適用于測定顆粒尺寸在1 nm～300nm范圍內的粉末的粒度分布，對于無機、有機溶膠及生物大分子粒度的測定，也可參照執行。當粉末的顆粒形狀偏離球形時，本方法給出的為等效散射球直徑。本方法不適用于由不同材質的顆粒組成的混合粉末；一般也不適用于有微孔存在的粉末，但當微孔尺寸為納米級而顆粒(或骨架)尺寸在0．5μm以上時，可以用來測定相應的孔徑分布。
推薦檢測機構
申請入駐
暫未檢測到相關機構，邀您申請入駐~
推薦認證機構
申請入駐
暫未檢測到相關機構，邀您申請入駐~
推薦培訓機構
申請入駐
暫未檢測到相關機構，邀您申請入駐~
? 2018 北京寰標偉業科技發展有限公司版權所有并保留所有權利。
ICP備案證書號：京ICP備17031081號-1 客服電話：010-62050868
