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釔鐵石榴石單晶磁性薄膜磁特性的測量方法 現(xiàn)行

Measurement of magnetic properties of YIG single crystal magnetic-films

標(biāo)準(zhǔn)號：SJ/T 11207-1999

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基本信息

標(biāo)準(zhǔn)號：SJ/T 11207-1999
發(fā)布時(shí)間：1999-08-26
實(shí)施時(shí)間：1999-12-01
首發(fā)日期：
起草人：
標(biāo)準(zhǔn)分類： 電子技術(shù)專用材料

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