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電子探針和掃描電鏡X射線能譜定量分析通則 已作廢

General specification of X-ray EDS quantitative analysis for EPMA and SEM

標(biāo)準(zhǔn)號:GB/T 17359-1998

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基本信息

標(biāo)準(zhǔn)號:GB/T 17359-1998
發(fā)布時間:1998-05-08
實施時間:1998-12-01
首發(fā)日期:1998-05-08
出版單位:中國標(biāo)準(zhǔn)出版社查看詳情>
起草人:劉安生、周劍雄、張宜
作廢日期:2013-02-01
出版機構(gòu):中國標(biāo)準(zhǔn)出版社
標(biāo)準(zhǔn)分類: 電子光學(xué)與其他物理光學(xué)儀器
ICS分類:光學(xué)設(shè)備
提出單位:全國微束分析標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會
起草單位:中國有色金屬工業(yè)總公司北京有色金屬研究總院、地礦部地質(zhì)科學(xué)研究院礦床地質(zhì)研究所、核工業(yè)部北京地質(zhì)研究院
歸口單位:全國微束分析標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會
發(fā)布部門:國家質(zhì)量技術(shù)監(jiān)督局
主管部門:國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會

標(biāo)準(zhǔn)簡介

本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了與電子探針和掃描電鏡聯(lián)用的X射線能譜儀的定量分析方法的技術(shù)要求和規(guī)范。本標(biāo)準(zhǔn)適用于電子探針和掃描電鏡X射線能譜儀對塊狀試樣的定量分析。

替代情況

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引用標(biāo)準(zhǔn)

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本標(biāo)準(zhǔn)相關(guān)公告

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