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電子電氣產品中鉛、鎘、鉻、汞的測定 笫4部分:電感耦合等離子體原子發射光譜法 現行

Determination of Lead Cadmium Chromiun and Mercury in electrical and electronic equipment--Part 4: Inductively coupled plasma atomic emission spectrometric method

標準號:SN/T 2004.4-2006

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基本信息

標準號:SN/T 2004.4-2006
發布時間:2006-04-25
實施時間:2006-11-15
首發日期:
起草人:鐘志光、劉祟華、張海峰、劉志紅、繆俊文等
標準分類: 基礎標準與通用方法
ICS分類:電子元件綜合
提出單位:國家認證認可監督管理委員會
起草單位:中華人民共和國廣東出入境檢驗檢疫局
歸口單位:國家認證認可監督管理委員會
發布部門:中華人民共和國國家質量監督檢驗檢疫總局

標準簡介

本部分規定了電感耦合等離子體原子發射光譜法(ICP-AES)測定電子電氣產品聚四氟乙烯除外)、金屬材料、電子元器件中鉛(Pb)、鉻(Cr)和泵(Hg)的方法。

替代情況

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引用標準

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采標情況

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