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藍寶石襯底片翹曲度測試方法

Test methods for warp of sapphire substrates
標準號:GB/T 31352-2014
基本信息
標準號:GB/T 31352-2014
發(fā)布時間:2014-12-31
實施時間:2015-09-01
首發(fā)日期:
出版單位:中國標準出版社查看詳情>
起草人:薛抗美、魏明德、黃修康、杭寅、夏根平、肖宗杰
出版機構:中國標準出版社
標準分類: 金屬物理性能試驗方法
ICS分類:金屬材料的其他試驗方法
提出單位:全國半導體設備和材料標準化技術委員會(SAC/TC 203)、全國半導體設備和材料標準化技術委員會材料分會(SAC/TC 203/SC 2)
起草單位:江蘇協(xié)鑫軟控設備科技發(fā)展有限公司、中國科學院上海光學精密機械研究所、北京合能陽光新能源技術有限公司
歸口單位:全國半導體設備和材料標準化技術委員會(SAC/TC 203)、全國半導體設備和材料標準化技術委員會材料分會(SAC/TC 203/SC 2)
發(fā)布部門:中華人民共和國國家質量監(jiān)督檢驗檢疫總局 中國國家標準化管理委員會
主管部門:全國半導體設備和材料標準化技術委員會(SAC/TC 203)、全國半導體設備和材料標準化技術委員會材料分會(SAC/T
標準簡介
本標準規(guī)定了藍寶石切割片、研磨片、拋光片(以下簡稱藍寶石襯底片)翹曲度的測試方法提要、干擾因素、儀器和設備、試樣、測試環(huán)境、測試程序、測試結果的計算、精密度以及試驗報告。 本標準適用于直徑50.8mm~304.8mm,厚度為不小于200μm的藍寶石襯底片翹曲度的測試。
標準摘要
本標準按照GB/T1.1—2009給出的規(guī)則起草。 請注意本文件的某些內容可能涉及專利。本文件的發(fā)布機構不承擔識別這些專利的責任。 本標準由全國半導體設備和材料標準化技術委員會(SAC/TC203)和全國半導體設備和材料標準化技術委員會材料分會(SAC/TC203/SC2)共同提出并歸口。 本標準起草單位:江蘇協(xié)鑫軟控設備科技發(fā)展有限公司、中國科學院上海光學精密機械研究所、北京合能陽光新能源技術有限公司。 本標準主要起草人:薛抗美、魏明德、黃修康、杭寅、夏根平、肖宗杰。 |
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