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珍珠珠層厚度測(cè)定方法 光學(xué)相干層析法 現(xiàn)行

Determination of nacre thickness—Optical coherence tomography

標(biāo)準(zhǔn)號(hào)：GB/T 23886-2009

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基本信息

標(biāo)準(zhǔn)號(hào)：GB/T 23886-2009
發(fā)布時(shí)間：2009-06-01
實(shí)施時(shí)間：2010-01-01
首發(fā)日期：2009-06-01
出版單位：中國標(biāo)準(zhǔn)出版社查看詳情>
起草人：張蓓莉、柯捷、沈美冬、魏然、曾楠、何永紅、馬輝、王輝
出版機(jī)構(gòu)：中國標(biāo)準(zhǔn)出版社
標(biāo)準(zhǔn)分類： 其他非金屬礦
ICS分類：珠寶
提出單位：中華人民共和國國土資源部
起草單位：全國珠寶玉石標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)
歸口單位：全國珠寶玉石標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)
發(fā)布部門：國土資源部
主管部門：國土資源部

標(biāo)準(zhǔn)簡介

本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了使用光學(xué)相干層析技術(shù)無損測(cè)量珍珠珠層厚度的方法。本標(biāo)準(zhǔn)適用于珍珠珠層厚度的測(cè)定。

標(biāo)準(zhǔn)摘要

本標(biāo)準(zhǔn)由中華人民共和國國土資源部提出。
本標(biāo)準(zhǔn)由全國珠寶玉石標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)歸口。
本標(biāo)準(zhǔn)起草單位:國家珠寶玉石質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)中心、清華大學(xué)、深圳市莫廷影像技術(shù)有限公司。
本標(biāo)準(zhǔn)主要起草人:張蓓莉、柯捷、沈美冬、魏然、曾楠、何永紅、馬輝、王輝。
本標(biāo)準(zhǔn)為首次發(fā)布。

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