當(dāng)前位置:
首頁 >
巖礦鑒定技術(shù)規(guī)范 第3部分:礦石光片制樣

Specification identification of rock and mineral—Part 3:Ore polished section preparation
標(biāo)準(zhǔn)號(hào):DZ/T 0275.3-2015
基本信息
標(biāo)準(zhǔn)號(hào):DZ/T 0275.3-2015
發(fā)布時(shí)間:2015-02-04
實(shí)施時(shí)間:2015-04-01
首發(fā)日期:
出版單位:中國(guó)標(biāo)準(zhǔn)出版社查看詳情>
起草人:胡勇平、吳國(guó)謀、鄭存江等
出版機(jī)構(gòu):中國(guó)標(biāo)準(zhǔn)出版社
標(biāo)準(zhǔn)分類: 基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)與通用方法
ICS分類:采礦和挖掘
提出單位:國(guó)土資源部
起草單位:浙江地質(zhì)礦產(chǎn)研究所
歸口單位:全國(guó)國(guó)土資源標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)(SAC/TC 93)
發(fā)布部門:國(guó)土資源部
主管部門:全國(guó)國(guó)土資源標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)(SAC/TC 93)
標(biāo)準(zhǔn)簡(jiǎn)介
本部分規(guī)定了礦石光片、砂樣或粉礦的制作的步驟、方法和質(zhì)量要求。 本部分適用于反射偏光顯微鏡觀察的礦石光片、砂光片的制作。
推薦檢測(cè)機(jī)構(gòu)
申請(qǐng)入駐
暫未檢測(cè)到相關(guān)機(jī)構(gòu),邀您申請(qǐng)入駐~
推薦認(rèn)證機(jī)構(gòu)
申請(qǐng)入駐
暫未檢測(cè)到相關(guān)機(jī)構(gòu),邀您申請(qǐng)入駐~
推薦培訓(xùn)機(jī)構(gòu)
申請(qǐng)入駐
暫未檢測(cè)到相關(guān)機(jī)構(gòu),邀您申請(qǐng)入駐~