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電子元器件失效率試驗方法
電子元器件失效率試驗方法 已作廢
Determination of failure rate of electronic elements and components
標準號：GB 1772-1979
基本信息
標準號：GB 1772-1979
發布時間：1979-09-25
實施時間：1980-03-01
首發日期：1979-09-25
起草人：
作廢日期：2005-10-14
標準分類： 電子元件綜合
ICS分類：電子元件綜合
起草單位：電子部四所
歸口單位：信息產業部（電子）
發布部門：信息產業部（電子）
主管部門：信息產業部（電子）
標準簡介
本標準規定了有可靠性指標的電子器件產品（以下簡稱產品）的定級、維持和升級試驗程序。本標準適用于其壽命能合理地認為是服從指數分布，在本質上是同一設計、建立了可靠性質量管理和連續生產的產品。
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