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石英晶體元件參數的測量 第8部分：表面貼裝石英晶體元件用測量夾具 現行

Measurement of quartz crystal unit parameters - Part 8: Test fixture for surface mounted quartz crystal units

標準號：GB/T 22319.8-2008

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基本信息

標準號：GB/T 22319.8-2008
發布時間：2008-08-06
實施時間：2009-01-01
首發日期：2008-08-06
出版單位：中國標準出版社查看詳情>
起草人：章怡、姜連生
出版機構：中國標準出版社
標準分類： 石英晶體、壓電元件
ICS分類：壓電器件和介質器件
提出單位：中華人民共和國信息產業部
起草單位：中國電子件行業協會壓電晶體分會
歸口單位：全國頻率控制和選擇用壓電器件標準化技術委員會
發布部門：中華人民共和國國家質量監督檢驗檢疫總局 中國國家標準化管理委員會
主管部門：信息產業部（電子）

標準簡介

GB/T22319的本部分規定了能精確測量無引線表面貼裝石英晶體元件的諧振頻率、諧振電阻及等效電路參數的測量夾具,測量方法采用IEC60444-4:1988和IEC60444-5:1995規定的零相位技術。使用該測量夾具的等效電路和適用的頻率范圍見隨后條款。此外,本部分也適用于IEC61240:1994中的無引線晶體元件外殼。測量夾具的等效電路和電參數都基于IEC60444-1:1986和IEC60444-4:1988。負載電容范圍為10pF 或更高。本部分還規定了測量系統和犆L片的校準。本部分適用于能準確測量石英晶體元件的諧振頻率、諧振電阻、并電容犆0、動態電容犆1 和動態電感C1的測量夾具,其頻率范圍為1 MHz~150 MHz,采用基于IEC604445:1995的自動網絡分析儀。

標準摘要

GB/T22319《石英晶體元件參數的測量》分為如下幾部分:
---第1部分:用π型網絡零相位法測量石英晶體元件諧振頻率和諧振電阻的基本方法;
---第2部分:測量石英晶體元件動態電路的相位偏置法;
---第3部分:利用有并電容C0補償的π型網絡相位法測量頻率達200 MHz的石英晶體元件兩端網絡參數的基本方法;
---第4部分:頻率達30MHz石英晶體元件負載諧振頻率和負載諧振電阻犚L 的測量方法及其他導出參數的計算;
---第5部分:采用自動網絡分析技術和誤差校正確定等效電參數的方法;
---第6部分:激勵電平相關性(DLD)的測量;
---第7部分:石英晶體元件活力和頻率降的測量;
---第8部分:表面貼裝石英晶體元件用測量夾具;
---第9部分:石英晶體元件寄生諧振的測量。
本部分為GB/T22319的第8部分。
本部分等同采用IEC60444-8:2003《石英晶體元件參數的測量 第8部分:表面貼裝石英晶體元件用測量夾具》(英文版)。
為便于使用,本部分作了下列編輯性修改:
a) 刪除國際標準的前言;
b) 刪除國際標準的引言;
c) 將本部分的各圖集中到正文最后;
d) 將原文6.1第二段中50±5%改為50×(1±5%)Ω。
本部分由中華人民共和國信息產業部提出。
本部分由全國頻率控制和選擇用壓電器件標委會歸口。
本部分起草單位:中國電子元件行業協會壓電晶體分會。
本部分主要起草人:章怡、姜連生。

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引用標準

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采標情況

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