數顯測高儀校準規范 現行
Calibration Specification for Height Measuring Instrument with Digital Display
標準號：JJF 1254-2010
基本信息
標準號：JJF 1254-2010
發布時間：2010-05-11
實施時間：2010-11-11
首發日期：
出版單位：中國質檢出版社查看詳情>
起草人：匡龍、耿麗紅、曹學東等
出版機構：中國質檢出版社
起草單位：中國科學院光電技術研究所、中國測試技術研究院
歸口單位：全國幾何量工程參量計量技術委員會
發布部門：中華人民共和國國家質量監督檢驗檢疫總局
主管部門：全國幾何量工程參量計量技術委員會
標準簡介
本規范適用于分辨力為0.1μm、0.2μm、0.5μm和1μm，量程為0mm至1000mm的數顯測高儀的校準。
標準目錄
| 1 范圍 (1) 2 引用文獻 (1) 3 概述 (1) 4 計量特性 (2) 4.1 測量力 (2) 4.2 垂直度 (2) 4.3 示值變動性 (2) 4.4 示值誤差 (2) 5 校準條件 (2) 5.1 環境條件(2) 5.2測量標準器及其他設備(3) 6校準項目和校準方法(3) 6.1測量力(3) 6.2垂直度(3) 6.3示值變動性(4) 6.4示值誤差(4) 7校準結果表達(4) 8復校時間間隔(4) 附錄A數顯測高儀示值誤差測量結果不確定度評定(5) 附錄B校準證書內容(8) |
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