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表面化學分析 俄歇電子能譜 化學信息的解析

Surface chemical analysis—Auger electron spectroscopy—Derivation of chemical information
標準號:GB/Z 32494-2016
基本信息
標準號:GB/Z 32494-2016
發布時間:2016-02-24
實施時間:2017-01-01
首發日期:
出版單位:中國標準出版社查看詳情>
起草人:卓尚軍、申如香、虞玲、劉芬、沈電洪、丁訓民
出版機構:中國標準出版社
標準分類: 基礎標準與通用方法
ICS分類:化學分析
提出單位:全國微束分析標準化技術委員會(SAC/TC 38)
起草單位:中國科學院上海硅酸鹽研究所
歸口單位:全國微束分析標準化技術委員會(SAC/TC 38)
發布部門:中華人民共和國國家質量監督檢驗檢疫總局 中國國家標準化管理委員會
主管部門:全國微束分析標準化技術委員會(SAC/TC 38)
標準簡介
本指導性技術文件規定了識別X射線或者電子激發的俄歇譜中的化學效應以及把它們用于化學表征的方法準則。
標準摘要
本指導性技術文件按照GB/T 1.1-2009給出的規則起草。 本指導性技術文件使用翻譯法等同采用ISO/TR 18394:2006《表面化學分析 俄歇電子能譜 化學信息的解析》。 本指導性技術文件由全國微束分析標準化技術委員會(SAC/TC 38)提出并歸口。 本指導性技術文件負責起草單位:中國科學院上海硅酸鹽研究所。 本指導性技術文件主要起草人:卓尚軍、申如香、虞玲、劉芬、沈電洪、丁訓民。 |
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