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半導(dǎo)體器件 集成電路 第11部分：第1篇：半導(dǎo)體集成電路 內(nèi)部目檢 （不包括混合電路） 現(xiàn)行

Semiconductor devices—Integrated Circuits—Part 11:Section 1:Internal visual examination for semiconductor integrated circuits (excluding hybrid circuits)

標準號：GB/T 19403.1-2003

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基本信息

標準號：GB/T 19403.1-2003
發(fā)布時間：2003-11-24
實施時間：2004-08-01
首發(fā)日期：2003-11-24
出版單位：中國標準出版社查看詳情>
起草人：魏華、王靜
出版機構(gòu)：中國標準出版社
標準分類： 半導(dǎo)體集成電路
ICS分類：集成電路、微電子學(xué)
提出單位：中華人民共和國信息產(chǎn)業(yè)部
起草單位：信息產(chǎn)業(yè)部第四研究所
歸口單位：全國半導(dǎo)體器件標準化技術(shù)委員會
發(fā)布部門：中華人民共和國國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗檢疫總局
主管部門：信息產(chǎn)業(yè)部（電子）

標準簡介

本部分為GB/T19403的一部分，等同采用國際電工委員會標準IEC60748-11-1：1992《半導(dǎo)體器件集成電路第11部分：第1節(jié)：半導(dǎo)體集成電路內(nèi)部目檢》。

替代情況

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引用標準

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采標情況

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