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影像測(cè)量?jī)x校準(zhǔn)規(guī)范

Calibration Specification for Imaging Probe Measuring Machines
標(biāo)準(zhǔn)號(hào):JJF 1318-2011
基本信息
標(biāo)準(zhǔn)號(hào):JJF 1318-2011
發(fā)布時(shí)間:2011-11-14
實(shí)施時(shí)間:2012-02-14
首發(fā)日期:
出版單位:中國(guó)質(zhì)檢出版社查看詳情>
起草人:于冀平、薛梓、繆華清、方南家、茅振華等
出版機(jī)構(gòu):中國(guó)質(zhì)檢出版社
起草單位:深圳市計(jì)量質(zhì)量檢測(cè)研究院、中國(guó)計(jì)量科學(xué)研究院、浙江省計(jì)量科學(xué)研究院等
歸口單位:全國(guó)幾何量長(zhǎng)度計(jì)量技術(shù)委員會(huì)
發(fā)布部門(mén):中華人民共和國(guó)國(guó)家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局
主管部門(mén):全國(guó)幾何量長(zhǎng)度計(jì)量技術(shù)委員會(huì)
標(biāo)準(zhǔn)簡(jiǎn)介
本規(guī)范適用于平面直角坐標(biāo)系的影像測(cè)量?jī)x,包括在垂直于平面直角坐標(biāo)系方向上具有定位或測(cè)量功能的影像測(cè)量?jī)x。
標(biāo)準(zhǔn)目錄
1 范圍 (1) 2 引用文件 (1) 3 術(shù)語(yǔ) (1) 4 概述 (2) 5 計(jì)量特性 (2) 5.1 尺寸測(cè)量誤差 (2) 5.2 各截面測(cè)量結(jié)果一致性(EC) (3) 5.3 探測(cè)誤差 (3) 5.4 變倍探測(cè)誤差(PZ) (3) 6 校準(zhǔn)條件 (3) 6.1 環(huán)境條件 (3) 6.2 操作條件 (3) 6.3 測(cè)量系統(tǒng)配置 (3) 6.4 標(biāo)準(zhǔn)器及其他設(shè)備 (3) 6.5 其他條件 (3) 7 校準(zhǔn)項(xiàng)目和校準(zhǔn)方法 (4) 7.1 校準(zhǔn)尺寸測(cè)量誤差EZ、EXY 和EV 的通用要求 (4) 7.2 二維探測(cè)誤差P2D (5) 7.3 (測(cè)量平面內(nèi)的)尺寸測(cè)量誤差EXY (5) 7.4 垂直尺寸測(cè)量誤差EZ (6) 7.5 各截面測(cè)量結(jié)果一致性EC (6) 7.6 影像測(cè)頭探測(cè)誤差PV (6) 7.7 影像測(cè)頭尺寸測(cè)量誤差EV (6) 7.8 變倍探測(cè)誤差PZ (6) 8 校準(zhǔn)結(jié)果表達(dá) (7) 9 復(fù)校時(shí)間間隔 (7) 附錄A 專用臺(tái)階規(guī)規(guī)格 (8) 附錄B 單、雙向逼近和單、雙向及對(duì)中測(cè)量 (10) 附錄C 用二維尺寸掩模板校準(zhǔn)EXY 的方法 (11) 附錄D 測(cè)量尺寸示值誤差的不確定度評(píng)定示例 (12) |
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