電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 鹽霧試驗(yàn)設(shè)備 廢止
Inspection methods for environmental testing equipments for electric and electronic products—Salt mist testing equipments
標(biāo)準(zhǔn)號(hào)：GB/T 5170.8-2008
ＧＢ／Ｔ５１７０的本部分規(guī)定了鹽霧試驗(yàn)設(shè)備的檢驗(yàn)項(xiàng)目、檢驗(yàn)用主要儀器及要求、檢驗(yàn)負(fù)載、檢驗(yàn)條件、檢驗(yàn)方法、數(shù)據(jù)處理結(jié)果與檢驗(yàn)結(jié)果、檢驗(yàn)周期等內(nèi)容。本部分適用于ＧＢ／Ｔ２４２３．１７《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第２部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Ｋａ：鹽霧試驗(yàn)方法》和ＧＢ／Ｔ２４２３．１８《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第２部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Ｋｂ：鹽霧，交變（氯化鈉溶液）》所用鹽霧試驗(yàn)設(shè)備的首次檢驗(yàn)／驗(yàn)收檢驗(yàn)和周期檢驗(yàn)。本部分也適用于類似試驗(yàn)設(shè)備的檢驗(yàn)。
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GB/T5170目前包含以下幾部分: ---GB/T5170.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 總則 ---GB/T5170.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 溫度試驗(yàn)設(shè)備 ---GB/T5170.5-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 濕熱試驗(yàn)設(shè)備 ---GB/T5170.8-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 鹽霧試驗(yàn)設(shè)備 ---GB/T5170.9-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 太陽(yáng)輻射試驗(yàn)設(shè)備 ---GB/T5170.10-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 高低溫低氣壓試驗(yàn)設(shè)備 ---GB/T5170.11-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 腐蝕氣體試驗(yàn)設(shè)備 ---GB/T5170.13-2005 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 振動(dòng)(正弦)試驗(yàn)用機(jī)械振動(dòng)臺(tái) ---GB/T5170.14-1985 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 振動(dòng)(正弦)試驗(yàn)用電動(dòng)振動(dòng)臺(tái) ---GB/T5170.15-2005 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 振動(dòng)(正弦)試驗(yàn)用液壓振動(dòng)臺(tái) ---GB/T5170.16-2005 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 穩(wěn)態(tài)加速度試驗(yàn)用離心機(jī) ---GB/T5170.17-2005 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 低溫/低氣壓/濕熱綜合順序試驗(yàn)設(shè)備 ---GB/T5170.18-2005 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 溫度/濕度組合循環(huán)試驗(yàn)設(shè)備 ---GB/T5170.19-2005 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 溫度/振動(dòng)(正弦)綜合試驗(yàn)設(shè)備 ---GB/T5170.20-2005 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 水試驗(yàn)設(shè)備 本部分是GB/T5170的第8部分。 本部分代替GB/T5170.8-1996。與GB/T5170.8-1996相比,技術(shù)內(nèi)容主要有如下變化: ---標(biāo)準(zhǔn)名稱電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 鹽霧試驗(yàn)設(shè)備更改為電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 鹽霧試驗(yàn)設(shè)備; ---所有用詞檢定更改為檢驗(yàn); ---增加了術(shù)語(yǔ)和定義一章; ---增加了溫度波動(dòng)度檢驗(yàn)項(xiàng)目; ---增加了溫度均勻度檢驗(yàn)項(xiàng)目; ---增加了溫度指示誤差檢驗(yàn)項(xiàng)目; ---增加了溫度過(guò)沖量檢驗(yàn)項(xiàng)目; ---增加了溫度過(guò)沖恢復(fù)時(shí)間檢驗(yàn)項(xiàng)目; ---增加了噪聲檢驗(yàn)項(xiàng)目; ---在檢驗(yàn)用主要儀器及要求一章中,給出了溫度測(cè)量系統(tǒng)其測(cè)量結(jié)果的擴(kuò)展不確定度(k=2) 的要求; ---增加了檢驗(yàn)負(fù)載一章; Ⅲ 犌犅/犜5170.8-2008 ---測(cè)量數(shù)據(jù)記錄改為每一分鐘記錄一次數(shù)據(jù); ---增加了附錄A檢驗(yàn)項(xiàng)目的選擇。 附錄A 為規(guī)范性附錄。 本部分由全國(guó)電工電子產(chǎn)品環(huán)境條件與環(huán)境試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)(SAC/TC8)提出并歸口。 本部分起草單位:信息產(chǎn)業(yè)部電子第五研究所。 本部分主要起草人:伍偉雄、謝晨浩、蔡錦文、張孝華、羅軍、薛秀美、孔玉梅、梁為旺、羅國(guó)良。 本部分所代替標(biāo)準(zhǔn)的歷次版本發(fā)布情況為: ---GB/T5170.8-1985; ---GB/T5170.8-1996。 |
| 前言Ⅲ 1 范圍1 2 規(guī)范性引用文件1 3 術(shù)語(yǔ)和定義1 4 檢驗(yàn)項(xiàng)目1 5 檢驗(yàn)用主要儀器及要求2 6 檢驗(yàn)負(fù)載2 7 檢驗(yàn)條件2 8 檢驗(yàn)方法2 9 數(shù)據(jù)處理結(jié)果與檢驗(yàn)結(jié)果6 10 檢驗(yàn)周期7 附錄A (規(guī)范性附錄) 檢驗(yàn)項(xiàng)目的選擇8 |
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