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電磁兼容 試驗和測量技術 閃爍儀 功能和設計規范 現行

Electromagnetic compatibility—Testing and measurement techniques—Flickermeter—Functional and design specifications

標準號：GB/T 17626.15-2011

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基本信息

標準號：GB/T 17626.15-2011
發布時間：2011-12-30
實施時間：2012-08-01
首發日期：2011-12-30
出版單位：中國標準出版社查看詳情>
起草人：壽建霞、錢振宇、葉瓊瑜、程麗玲、孟志平、劉媛、肖瀟、鄭軍奇、劉曉東等
出版機構：中國標準出版社
標準分類： 電磁兼容
ICS分類：電磁兼容性(EMC)
提出單位：全國電磁兼容標準化技術委員會(SAC/TC 246)
起草單位：上海電器科學研究院、上海三基電子工業有限公司等
歸口單位：全國電磁兼容標準化技術委員會(SAC/TC 246)
發布部門：中華人民共和國國家質量監督檢驗檢疫總局 中國國家標準化管理委員會
主管部門：全國電磁兼容標準化技術委員會(SAC/TC 246)

標準簡介

本部分規定了閃爍測量儀器的功能和設計規范,旨在為所有實際的電壓波動波形顯示正確的閃爍感知電平。本部分列出了組建這樣一種儀器的信息,并給出了基于符合本部分的閃爍儀的輸出結果來評估閃爍嚴酷度的方法。本部分有些內容是基于國際電熱聯盟(UIE)“騷擾”工作組的工作,有些內容是基于IEEE的工作,其他內容是基于IEC本身的工作。本閃爍儀規范,涉及輸入為230V/50Hz和120V/60Hz的測量;對于其他電壓和頻率的規范正在考慮中。

標準摘要

GB/T17626《電磁兼容 試驗和測量技術》分為以下部分:
GB/T17626.1—2006 電磁兼容 試驗和測量技術 抗擾度試驗總論
GB/T17626.2—2006 電磁兼容 試驗和測量技術 靜電放電抗擾度試驗
GB/T17626.3—2006 電磁兼容 試驗和測量技術 射頻電磁場輻射抗擾度試驗
GB/T17626.4—2008 電磁兼容 試驗和測量技術 電快速瞬變脈沖群抗擾度試驗
GB/T17626.5—2008 電磁兼容 試驗和測量技術 浪涌(沖擊)抗擾度試驗
GB/T17626.6—2008 電磁兼容 試驗和測量技術 射頻場感應的傳導騷擾抗擾度
GB/T17626.7—2008 電磁兼容 試驗和測量技術 供電系統及所連設備諧波、諧間波的測量和測量儀器導則
GB/T17626.8—2006 電磁兼容 試驗和測量技術 工頻磁場抗擾度試驗
GB/T17626.9—2011 電磁兼容 試驗和測量技術 脈沖磁場抗擾度試驗
GB/T17626.10—1998 電磁兼容 試驗和測量技術 阻尼振蕩磁場抗擾度試驗
GB/T17626.11—2008 電磁兼容 試驗和測量技術 電壓暫降、短時中斷和電壓變化的抗擾度試驗
GB/T17626.12—1998 電磁兼容 試驗和測量技術 振蕩波抗擾度試驗
GB/T17626.13—2006 電磁兼容 試驗和測量技術 交流電源端口諧波、諧間波及電網信號的低頻抗擾度試驗
GB/T17626.14—2005 電磁兼容 試驗和測量技術 電壓波動抗擾度試驗GB/T17626.15—2011 電磁兼容 試驗和測量技術 閃爍儀 功能和設計規范GB/T17626.16—2007 電磁兼容 試驗和測量技術 0Hz~150kHz共模傳導騷擾抗擾度試驗GB/T17626.17—2005 電磁兼容 試驗和測量技術 直流電源輸入端口紋波抗擾度試驗GB/T17626.27—2006 電磁兼容 試驗和測量技術 三相電壓不平衡抗擾度試驗GB/T17626.28—2006 電磁兼容 試驗和測量技術 工頻頻率變化抗擾度試驗GB/T17626.29—2006 電磁兼容 試驗和測量技術 直流電源輸入端口電壓暫降、短時中斷和電壓變化的抗擾度試驗
本部分為GB/T17626的第15部分。
本部分按照GB/T1.1—2009給出的規則起草。
本部分等同采用國際標準IEC61000-4-15:1997+A1:2003(第1.1版)《電磁兼容 試驗和測量技術 閃爍儀 功能和設計規范》,并進行如下編輯性修改:
———對規范性引用文件中引用的IEC61000-4系列和IEC61010-1標準,因其版本過低,同時考慮到這些標準換版頻繁,因此將其對應的國家標準修改為不注日期引用;
———對表4~表8的序號進行了調整。本部分的表4對應IEC61000-4-15:1997+A1:2003中的表8,是2003年修訂件的新增表格;為保證標準全文表格序號的連續性,將其表格序號變更為表4,其后所有的表格序號依次調整。
本部分由全國電磁兼容標準化技術委員會(SAC/TC246)提出并歸口。
本部分負責起草單位:上海電器科學研究院、上海三基電子工業有限公司。
本部分主要起草人:壽建霞、錢振宇、葉瓊瑜、程麗玲、孟志平、劉媛、肖瀟、鄭軍奇、劉曉東。

標準目錄

前言 Ⅰ
1 范圍 1
2 規范性引用文件 1
3 儀器描述 2
4 規范 4
5 性能測試 8
6 型式試驗和校準規范 9
附錄A (規范性附錄) 提高閃爍評估準確度的方法 15
A.1 線性內插法 15
A.2 非線性內插法 15
A.3 偽零截取 15
A.4 非線性分類 16
附錄B(資料性附錄) ΔV/V 的含義和電壓變化的次數 17
參考文獻 18

替代情況

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引用標準

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本標準相關公告

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采標情況

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