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硅單晶電阻率標(biāo)準(zhǔn)樣片檢定規(guī)程 現(xiàn)行

Verification Regulation of Standard Slice of Single Crystal Silicon Resistivity

標(biāo)準(zhǔn)號(hào)：JJG 48-2004

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基本信息

標(biāo)準(zhǔn)號(hào)：JJG 48-2004
發(fā)布時(shí)間：2004-09-21
實(shí)施時(shí)間：2005-03-21
首發(fā)日期：
出版單位：中國(guó)計(jì)量出版社查看詳情>
起草人：魯效明
出版機(jī)構(gòu)：中國(guó)計(jì)量出版社
標(biāo)準(zhǔn)分類： 無(wú)線電計(jì)量
ICS分類：電學(xué)、磁學(xué)、電和磁的測(cè)量
起草單位：中國(guó)計(jì)量科學(xué)技術(shù)研究院
歸口單位：全國(guó)無(wú)線電計(jì)量技術(shù)委員會(huì)
發(fā)布部門(mén)：中華人民共和國(guó)國(guó)家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局

標(biāo)準(zhǔn)簡(jiǎn)介

本規(guī)程適用于硅單晶電阻率標(biāo)準(zhǔn)樣片的首次檢定、后續(xù)檢定和使用中的檢驗(yàn)。

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