光學(xué)和光學(xué)儀器 環(huán)境試驗方法 第21部分：低壓與大氣溫度、高溫綜合試驗 現(xiàn)行
Optics and optical instruments—Environmental test methods—Part 21:Combined low pressure and ambient temperature or dry heat
標準號：GB/T 12085.21-2011
基本信息
標準號：GB/T 12085.21-2011
發(fā)布時間：2011-06-16
實施時間：2011-11-01
首發(fā)日期：
出版單位：中國標準出版社查看詳情>
起草人：
出版機構(gòu)：中國標準出版社
標準分類： 光學(xué)儀器綜合
ICS分類：光學(xué)設(shè)備
起草單位：上海理工大學(xué)、寧波永新光學(xué)股份有限公司、寧波舜宇儀器有限公司、廣東粵顯光學(xué)儀器有限責(zé)任公司等
歸口單位：全國光學(xué)和光子學(xué)標準化技術(shù)委員會(SAC/TC 103)
發(fā)布部門：中華人民共和國國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗檢疫總局 中國國家標準化管理委員會
主管部門：全國光學(xué)和光子學(xué)標準化技術(shù)委員會(SAC/TC 103)
標準簡介
本標準規(guī)定了低壓與大氣溫度、高溫綜合試驗的試驗條件、條件試驗、試驗程序及環(huán)境試驗標記，適用于光學(xué)儀器、裝有光學(xué)零部件的儀器和光學(xué)零部件。
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