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晶體管直流和低頻參數(shù)測(cè)試儀檢定規(guī)程 現(xiàn)行

DC and LF Characterization Tester for Transistor

標(biāo)準(zhǔn)號(hào)：JJG 725-1991

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基本信息

標(biāo)準(zhǔn)號(hào)：JJG 725-1991
發(fā)布時(shí)間：1991-03-04
實(shí)施時(shí)間：1991-12-01
首發(fā)日期：
出版單位：中國(guó)計(jì)量出版社查看詳情>
起草人：王霞蓀
出版機(jī)構(gòu)：中國(guó)計(jì)量出版社
標(biāo)準(zhǔn)分類： 電磁計(jì)量
起草單位：湖南省計(jì)量測(cè)試技術(shù)研究所
歸口單位：湖南省計(jì)量局
發(fā)布部門：國(guó)家技術(shù)監(jiān)督局

標(biāo)準(zhǔn)簡(jiǎn)介

本規(guī)程適用于新制造、使用中和修理后的JS-2C型、BJ2952A（JS-3A）型、BJ2950A（JS-4A）型、BJ2951A（JS-5A）型、BJ2911（HQ-1B）型、JSS-4A型晶體管直流和低頻參數(shù)測(cè)試儀的檢定。符合本規(guī)程技術(shù)要求的其他同類型亦可按本規(guī)程進(jìn)行檢定。本規(guī)程不適用于數(shù)字顯示儀器和專用測(cè)試系統(tǒng)。

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