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帶表千分尺檢定規(guī)程

Verification Regulation of Micrometers with Gauge
標(biāo)準(zhǔn)號:JJG 427-2004
基本信息
標(biāo)準(zhǔn)號:JJG 427-2004
發(fā)布時(shí)間:2004-03-02
實(shí)施時(shí)間:2004-09-02
首發(fā)日期:
出版單位:中國計(jì)量出版社查看詳情>
起草人:馬 荃、王 利、褚 云 庫、馬 鐘 煥
出版機(jī)構(gòu):中國計(jì)量出版社
標(biāo)準(zhǔn)分類: 長度計(jì)量
ICS分類:長度和角度測量
提出單位:全國幾何量工程參量計(jì)量技術(shù)委員會
起草單位:黑龍江省計(jì)量檢定測試院、哈爾濱市計(jì)量檢定測試所、哈爾濱電機(jī)廠有限責(zé)任公司、吉林省計(jì)量科學(xué)研究院
歸口單位:全國幾何量工程參量計(jì)量技術(shù)委員會
發(fā)布部門:國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局
主管部門:國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局
標(biāo)準(zhǔn)簡介
本規(guī)程適用于測量上限至l00mm、分度值為0.001m m的帶表千分尺的首次檢定、后續(xù)檢定和使用中檢驗(yàn)。
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