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晶體折射率的試驗(yàn)方法 現(xiàn)行

Method for testing refractive index of crystals

標(biāo)準(zhǔn)號(hào)：GB/T 16863-1997

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基本信息

標(biāo)準(zhǔn)號(hào)：GB/T 16863-1997
發(fā)布時(shí)間：1997-06-16
實(shí)施時(shí)間：1997-12-01
首發(fā)日期：1997-06-16
出版單位：中國(guó)標(biāo)準(zhǔn)出版社查看詳情>
起草人：
出版機(jī)構(gòu)：中國(guó)標(biāo)準(zhǔn)出版社
標(biāo)準(zhǔn)分類： 儀器、儀表用材料和元件
ICS分類：光學(xué)和光學(xué)測(cè)量綜合
起草單位：中國(guó)科學(xué)院物理研究所
歸口單位：中國(guó)建筑材料工業(yè)協(xié)會(huì)
發(fā)布部門：國(guó)家技術(shù)監(jiān)督局
主管部門：中國(guó)建筑材料工業(yè)協(xié)會(huì)

標(biāo)準(zhǔn)簡(jiǎn)介

本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定在室溫下，可見光波段范圍內(nèi)，用最小偏向角法測(cè)量晶體折射率的試驗(yàn)方法。本標(biāo)準(zhǔn)適用于晶體折射率的測(cè)試。

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