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金屬與合金電子探針定量分析樣品的制備方法 現(xiàn)行

Method of preparation for samples of metal and alloy in electron probe microanalysis

標(biāo)準(zhǔn)號：GB/T 17365-1998

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基本信息

標(biāo)準(zhǔn)號：GB/T 17365-1998
發(fā)布時間：1998-05-08
實施時間：1998-01-02
首發(fā)日期：1998-05-08
出版單位：中國標(biāo)準(zhǔn)出版社查看詳情>
起草人：
出版機構(gòu)：中國標(biāo)準(zhǔn)出版社
標(biāo)準(zhǔn)分類： 電子光學(xué)與其他物理光學(xué)儀器
ICS分類：光學(xué)設(shè)備
起草單位：冶金部鋼鐵研究總院和中科院金屬所
歸口單位：全國微束分析標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會
發(fā)布部門：國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會
主管部門：國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會

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