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厚膜微電子技術用貴金屬漿料測試方法 細度測定
厚膜微電子技術用貴金屬漿料測試方法 細度測定 已作廢
Test methods of precious metal pastes used for thick film microelectronics--Determination of fineness
標準號：GB/T 17473.2-1998
基本信息
標準號：GB/T 17473.2-1998
發布時間：1998-08-19
實施時間：1999-03-01
首發日期：1998-08-19
出版單位：中國標準出版社查看詳情>
起草人：
作廢日期：2008-09-01
出版機構：中國標準出版社
標準分類： 金屬物理性能試驗方法
ICS分類：金屬材料試驗綜合
起草單位：昆明貴金屬研究所
歸口單位：全國有色金屬標準化技術委員會
發布部門：國家質量技術監督局
主管部門：中國有色金屬工業協會
標準簡介
本標準規定了貴金屬漿料細度的刮板試驗方法。本標準適用于貴金屬漿料細度測定。非貴金屬漿料的細度測定亦可參照使用。
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