基本信息
標準號：JB/T 9340-1999
發布時間：1999-08-06
實施時間：2000-01-01
首發日期：
出版單位：機械工業出版社查看詳情>
起草人：
出版機構：機械工業出版社
標準分類： 光學計量儀器
ICS分類：光學測量儀器
提出單位：全國光學和光學儀器標準化技術委員會
起草單位：上海光學儀器研究所，貴陽光電技術研究所
歸口單位：全國光學和光學儀器標準化技術委員會
發布部門：國家機械工業局
標準簡介
本標準規定了光切顯微鏡技術要求、試驗方法、檢驗規則。本標準適用于測t表面粗糙度參數值Rz(RY)1μm～100μm的光切顯微鏡。
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