
Test method for measuring metallic impurities content in silicon materials used for photovoltaic applications by inductively coupled plasma mass spectrometry
標準號:GB/T 31854-2015
基本信息
標準號:GB/T 31854-2015
發布時間:2015-07-03
實施時間:2016-03-01
首發日期:
出版單位:中國標準出版社查看詳情>
起草人:褚連青、王奕、徐靜、王鑫、何秀坤、裴會川、馮亞彬、魯文峰、余慧茹、張雪囡
出版機構:中國標準出版社
標準分類: 元素半導體材料
ICS分類:半導體材料
提出單位:全國半導體設備和材料標準化技術委員會(SAC/TC203)及材料分技術委員會(SAC/TC203/SC2)
起草單位:信息產業專用材料質量監督檢驗中心、中國電子技術標準化研究院、江蘇中能硅業科技發展有限公司、洛陽中硅高科技有限公司、國家電子功能與輔助材料質量監督檢驗中心、天津市環歐半導體材料技術有限公司
歸口單位:全國半導體設備和材料標準化技術委員會(SAC/TC203)及材料分技術委員會(SAC/TC203/SC2)
發布部門:中華人民共和國國家質量監督檢驗檢疫總局 中國國家標準化管理委員會
主管部門:國家標準化管理委員會
標準簡介
本標準規定了利用電感耦合等離子體質譜儀(ICP-MS)測定光伏電池用硅材料中痕量體金屬雜質含量的方法。本標準適用于光伏電池用硅材料中痕量體金屬雜質鐵、鉻、鎳、銅、鋅含量的測定。各元素的測量范圍見表1。
標準摘要
本標準按照 GB/T1.1—2009給出的規則起草。 請注意本文件的某些內容可能涉及專利。本文件的發布機構不承擔識別這些專利的責任。 本標準由全國半導體設備和材料標準化技術委員會(SAC/TC203)及材料分技術委員會(SAC/TC203/SC2)共同提出并歸口。 本標準起草單位:信息產業專用材料質量監督檢驗中心、中國電子技術標準化研究院、江蘇中能硅業科技發展有限公司、洛陽中硅高科技有限公司、國家電子功能與輔助材料質量監督檢驗中心、天津市環歐半導體材料技術有限公司。 本標準主要起草人:褚連青、王奕、徐靜、王鑫、何秀坤、裴會川、馮亞彬、魯文峰、余慧茹、張雪囡。 |
推薦檢測機構
申請入駐
暫未檢測到相關機構,邀您申請入駐~
推薦認證機構
申請入駐
暫未檢測到相關機構,邀您申請入駐~
推薦培訓機構
申請入駐
暫未檢測到相關機構,邀您申請入駐~