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電容式測(cè)微儀檢定規(guī)程 現(xiàn)行

Verification Regulation of Capacitance Comparators

標(biāo)準(zhǔn)號(hào)：JJG 570-2006

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基本信息

標(biāo)準(zhǔn)號(hào)：JJG 570-2006
發(fā)布時(shí)間：2006-03-08
實(shí)施時(shí)間：2006-09-08
首發(fā)日期：
出版單位：中國計(jì)量出版社查看詳情>
起草人：任方平、黃玉珠、賈曉杰、鄭義忠
出版機(jī)構(gòu)：中國計(jì)量出版社
標(biāo)準(zhǔn)分類： 長度計(jì)量
ICS分類：長度和角度測(cè)量
起草單位：河南省計(jì)量科學(xué)院、天津大學(xué)
歸口單位：全國幾何量工程參量計(jì)量技術(shù)委員會(huì)
發(fā)布部門：國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局

標(biāo)準(zhǔn)簡介

本規(guī)程適用于量程不大于2000μm、分辨力為1nm~0.5μm的電容式測(cè)微儀的首次檢定、后續(xù)檢定和使用中檢驗(yàn)。

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