當前位置：
首頁 >
掃描電子顯微鏡 試驗方法
基本信息
標準號：JB/T 6842-1993
發布時間：1993-07-09
實施時間：1994-01-01
首發日期：
出版單位：機械工業出版社查看詳情>
起草人：
出版機構：機械工業出版社
標準分類： 電子光學與其他物理光學儀器
提出單位：上海電子光學技術研究所
起草單位：上海電子光學技術研究所
歸口單位：上海電子光學技術研究所
發布部門：中華人民共和國機械工業部
標準簡介
本標準規定了掃描電子顯微鏡的試驗方法。本標準適用于掃描電鏡主機性能的試驗。
推薦檢測機構
申請入駐
暫未檢測到相關機構，邀您申請入駐~
推薦認證機構
申請入駐
暫未檢測到相關機構，邀您申請入駐~
推薦培訓機構
申請入駐
暫未檢測到相關機構，邀您申請入駐~
? 2018 北京寰標偉業科技發展有限公司版權所有并保留所有權利。
ICP備案證書號：京ICP備17031081號-1 客服電話：010-62050868
