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全巖光片顯微組分測定方法

Maceral analysis on polished surfaces of whole rocks
標(biāo)準(zhǔn)號:SY/T 6414-1999
基本信息
標(biāo)準(zhǔn)號:SY/T 6414-1999
發(fā)布時間:1999-05-17
實施時間:1999-12-01
首發(fā)日期:
出版單位:石油工業(yè)出版社查看詳情>
起草人:李佩珍、鐘寧寧
作廢日期:2015-03-01
出版機構(gòu):石油工業(yè)出版社
標(biāo)準(zhǔn)分類: 石油地質(zhì)勘探
ICS分類:石油和天然氣的開采與加工
提出單位:中國石油天然氣集團公司
起草單位:勝利石油管理局地質(zhì)科學(xué)研究院、石油大學(xué)(北京)地球科學(xué)系
歸口單位:石油地質(zhì)勘探專業(yè)標(biāo)準(zhǔn)化委員會
發(fā)布部門:國家石油和化學(xué)工業(yè)局
主管部門:國家石油和化學(xué)工業(yè)局
標(biāo)準(zhǔn)簡介
本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了在偏反光顯微鏡下,用反射白光和反射熒光測定全巖光片顯微組分體積分?jǐn)?shù)的方法。本標(biāo)準(zhǔn)適用于暗色泥巖、碳酸鹽巖和煤光片顯微組分的測定。
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