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石英晶體元件參數(shù)的測量 第9部分：石英晶體元件寄生諧振的測量 現(xiàn)行

Measurement of quartz crystal unit parameters—Part 9:Measurement of spurious resonances of piezoelectric crystal units

標(biāo)準(zhǔn)號：GB/T 22319.9-2018

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基本信息

標(biāo)準(zhǔn)號：GB/T 22319.9-2018
發(fā)布時間：2018-03-15
實施時間：2018-10-01
首發(fā)日期：
出版單位：中國標(biāo)準(zhǔn)出版社查看詳情>
起草人：章怡、黃浩、毛晶
出版機構(gòu)：中國標(biāo)準(zhǔn)出版社
標(biāo)準(zhǔn)分類： 石英晶體、壓電元件
ICS分類：壓電器件和介質(zhì)器件
提出單位：中華人民共和國工業(yè)和信息化部
起草單位：中國電子元件行業(yè)協(xié)會壓電晶體分會、成都天奧電子股份有限公司、武漢海創(chuàng)電子股份有限公司
歸口單位：全國頻率控制和選擇用壓電器件標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(SAC/TC 182)
發(fā)布部門：中華人民共和國國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗檢疫總局 中國國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會
主管部門：工業(yè)和信息化部（電子）

標(biāo)準(zhǔn)簡介

規(guī)定了石英晶體元件寄生（無用）諧振的二種測量方法

替代情況

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