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金屬氧化物半導體氣敏元件測試方法
金屬氧化物半導體氣敏元件測試方法 現行
Measuring methods for gas sensors of metal-oxide semiconductor
標準號：GB/T 15653-1995
基本信息
標準號：GB/T 15653-1995
發布時間：1995-07-24
實施時間：1996-04-01
首發日期：1995-07-24
出版單位：中國標準出版社查看詳情>
起草人：
出版機構：中國標準出版社
標準分類： 敏感元器件及傳感器
ICS分類：電子元件綜合
起草單位：電子工業部標準化研究所
歸口單位：信息產業部（電子）
發布部門：國家技術監督局
主管部門：信息產業部（電子）
標準簡介
本標準規定了金屬氧化物半導體氣敏件性能參數測試方法的基本原理，沒有規定這些方法在實際使用時的技術細節，測試時可按相應的詳細規范的規定進行。本標準適用于金屬氧化物半導體氣敏件性能參數的測試，其他氣敏件亦可參照使用。
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