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半導體集成電路外殼總規范 已作廢

Generic specification of packages for semiconductor integrated circuits

標準號：GB 6649-1986

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基本信息

標準號：GB 6649-1986
發布時間：1986-07-31
實施時間：1987-08-01
首發日期：
起草人：
標準分類： 半導體集成電路
起草單位：上海無線電十廠
發布部門：國家標準局

標準簡介

本規范適用于半導體集成電路外殼（以下簡稱外殼），它規定了對外殼進行質量評定時的總程序，并給出了下述測試和試驗的總原則：電特性測試；氣候和機械試驗。對各類外殼，其詳細規范和本規定構成對外殼質量的完整要求。

替代情況

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引用標準

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采標情況

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