微束分析 分析電鏡（ＡＥＭ／ＥＤＳ）納米薄標樣通用規范 現行
Microbeam analysis—General guide for the specification of nanometer thin reference materials for analytical transmission electron microscope(AEM/EDS)
標準號：GB/T 18735-2014
基本信息
標準號：GB/T 18735-2014
發布時間：2014-07-24
實施時間：2015-03-01
首發日期：
出版單位：中國標準出版社查看詳情>
起草人：孫振亞
出版機構：中國標準出版社
標準分類： 基礎標準與通用方法
ICS分類：物理化學分析方法
提出單位：全國微束分析標準化技術委員會(SAC/TC38)
起草單位：武漢理工大學
歸口單位：全國微束分析標準化技術委員會(SAC/TC38)
發布部門：中華人民共和國國家質量監督檢驗檢疫總局 中國國家標準化管理委員會
主管部門：國家標準化管理委員會
標準簡介
本標準規定了分析電鏡(AEM/EDS)即透射電子顯微鏡或裝有掃描附件的透射電鏡配備 X 射線能譜儀(EDS),測量比例因子 KA-B所用納米薄標樣的技術要求、檢測條件和檢測方法。本標準適用于采用分析電鏡(AEM/EDS)進行無機薄樣品的微區元素定量分析。本標準不包括有機物和生物標樣。
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