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表面化學分析 X射線光電子能譜儀 能量標尺的校準 已作廢

Surface chemical analysis − X-ray photoelectron spectrometers − Calibration of energy scales

標準號：GB/T 22571-2008

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基本信息

標準號：GB/T 22571-2008
發布時間：2008-12-11
實施時間：2009-10-01
首發日期：2008-12-11
出版單位：中國標準出版社查看詳情>
起草人：丁訓民、吳揚、虞玲
作廢日期：2018-01-01
出版機構：中國標準出版社
標準分類： 基礎標準與通用方法
ICS分類：化學分析
提出單位：全國微束分析標準化技術委員會
起草單位：復旦大學應用表面物理國家重點實驗室
歸口單位：全國微束分析標準化技術委員會
發布部門：中華人民共和國國家質量監督檢驗檢疫總局 中國國家標準化管理委員會
主管部門：國家標準化管理委員會

標準簡介

本標準規定了一種用于一般分析目的時校準X射線光電子能譜儀結合能標尺的方法，該譜儀使用非單色化Al或MgX射線或單色化AlX射線。

標準摘要

本標準等同采用ＩＳＯ１５４７２：２００１《表面化學分析———Ｘ 射線光電子能譜儀———能量標尺的校準》。
為便于使用，本標準對ＩＳＯ１５４７２：２００１做了下列編輯性修改：
———刪除了原國際標準的前言部分；
———將本國際標準改為本標準。
附錄Ａ 為規范性附錄，附錄Ｂ、附錄Ｃ 和附錄Ｄ 為資料性附錄。
本標準由全國微束分析標準化技術委員會提出并歸口。
本標準起草單位：復旦大學應用表面物理國家重點實驗室。
本標準主要起草人：丁訓民、吳揚、虞玲。

標準目錄

前言Ⅲ
引言Ⅳ
１　范圍１
２　規范性引用文件１
３　符號和縮略語１
４　方法概述２
５　校準能量標尺的步驟５
附錄Ａ（規范性附錄）用一種簡單的計算方法對峰結合能作最小二乘法確定１２
附錄Ｂ（資料性附錄）不確定度的推導１４
附錄Ｃ（資料性附錄）對測得的結合能不確定度的引用１６
附錄Ｄ（資料性附錄）用配置單色化ＡｌＸ 射線源的ＸＰＳ譜儀測量修改型俄歇參數的方法１８
參考文獻２０

替代情況

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引用標準

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本標準相關公告

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采標情況

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