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立式接觸式干涉儀廢止

Vertical contact interferometers

標(biāo)準(zhǔn)號：JB/T 8233-1999

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基本信息

標(biāo)準(zhǔn)號：JB/T 8233-1999

發(fā)布時間：1999-08-06

實(shí)施時間：2000-01-01

首發(fā)日期：

出版單位：機(jī)械工業(yè)出版社查看詳情>

起草人：

出版機(jī)構(gòu)：機(jī)械工業(yè)出版社

標(biāo)準(zhǔn)分類：光學(xué)計量儀器

ICS分類：光學(xué)測量儀器

提出單位：全國光學(xué)和光學(xué)儀器標(biāo)委會

起草單位：上海光學(xué)儀器研究所、貴陽光電技術(shù)研究所

歸口單位：全國光學(xué)和光學(xué)儀器標(biāo)委會

發(fā)布部門：國家機(jī)械工業(yè)局

標(biāo)準(zhǔn)簡介

本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了立式接觸式干涉儀的基本參數(shù)及尺寸、技術(shù)要求、試驗(yàn)方法等。本標(biāo)準(zhǔn)適用于比較法測量長度的立式接觸式干涉儀。

替代情況

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引用標(biāo)準(zhǔn)

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本標(biāo)準(zhǔn)相關(guān)公告

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采標(biāo)情況

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