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微束分析 電子探針顯微分析 (EPMA) 術語 現行

Microbeam analysis - Electron Probe Micro Analysis (EPMA) - Vocabulary

標準號：GB/T 21636-2008

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基本信息

標準號：GB/T 21636-2008
發布時間：2008-04-11
實施時間：2008-10-01
首發日期：2008-04-11
出版單位：中國標準出版社查看詳情>
起草人：林卓然、李香庭、李戎、朱衍勇、莊世杰、柳得櫓
出版機構：中國標準出版社
標準分類： 基礎標準與通用方法
ICS分類：  01.040.71;71.040.99
提出單位：全國微束分析標準化技術委員會
起草單位：全國微束分析標準化技術委員會
歸口單位：全國微束分析標準化技術委員會
發布部門：中華人民共和國國家質量監督檢驗檢疫總局 國家標準化管理委員會
主管部門：國家標準化管理委員會

標準簡介

本標準定義了電子探針顯微分析(EPMA)實踐中使用的術語,包括一般概念的術語和按技術等級分類的具體概念的術語。本標準適用于所有有關電子探針顯微分析(EPMA)實踐的標準化文件,部分適用于相關領域[例如:掃描電子顯微鏡(SEM),分析電子顯微鏡(AEM),X射線能譜儀等]的標準化文件,用于定義共用的術語。

標準摘要

本標準等同采用國際標準ISO23833:2006《微束分析 電子探針顯微分析(EPMA) 術語》(英文版)。
為了便于使用,本標準做了下列編輯性修改:
---5.7.5的注中對ISO23833:2006 勘誤將Z>43改為Z>4;
---刪除了法文版。
本標準由全國微束分析標準化技術委員會提出并歸口。
本標準起草單位:全國微束分析標準化技術委員會。
本標準主要起草人:林卓然、李香庭、李戎、朱衍勇、莊世杰、柳得櫓。

替代情況

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引用標準

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本標準相關公告

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采標情況

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