
Surface chemical analysis - Secondary-ion mass spectrometry - Method for estimating depth resolution parameters with multiple delta-layer reference materials
標(biāo)準(zhǔn)號(hào):GB/T 22572-2008
基本信息
標(biāo)準(zhǔn)號(hào):GB/T 22572-2008
發(fā)布時(shí)間:2008-12-11
實(shí)施時(shí)間:2009-10-01
首發(fā)日期:2008-12-11
出版單位:中國(guó)標(biāo)準(zhǔn)出版社查看詳情>
起草人:馬農(nóng)農(nóng)、何友琴、何秀坤
出版機(jī)構(gòu):中國(guó)標(biāo)準(zhǔn)出版社
標(biāo)準(zhǔn)分類: 基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)與通用方法
ICS分類:化學(xué)分析
提出單位:全國(guó)微束分析標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)
起草單位:信息產(chǎn)業(yè)部專用材料質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)中心
歸口單位:全國(guó)微束分析標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)
發(fā)布部門:中華人民共和國(guó)國(guó)家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局 中國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)
主管部門:國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)
標(biāo)準(zhǔn)簡(jiǎn)介
本標(biāo)準(zhǔn)詳細(xì)說(shuō)明了在SIMS深度剖析中,用多δ層參考物質(zhì)評(píng)估前沿衰變長(zhǎng)度、后沿衰變長(zhǎng)度和高斯展寬三個(gè)深度分辨參數(shù)的步驟。由于樣品表面的物理和化學(xué)態(tài)受一次入射離子影響而不穩(wěn)定,本標(biāo)準(zhǔn)不適用于近表面區(qū)域的δ層。
標(biāo)準(zhǔn)摘要
本標(biāo)準(zhǔn)等同采用ISO20341:2003《表面化學(xué)分析———二次離子質(zhì)譜———用多δ層參考物質(zhì)評(píng)估深度分辨參數(shù)的方法》。 為便于使用,本標(biāo)準(zhǔn)對(duì)ISO20341:2003做了下列編輯性修改: ———?jiǎng)h除了原國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)的前言部分; ———將本國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)改為本標(biāo)準(zhǔn)。 本標(biāo)準(zhǔn)的附錄A 為規(guī)范性附錄。 本標(biāo)準(zhǔn)由全國(guó)微束分析標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)提出并歸口。 本標(biāo)準(zhǔn)負(fù)責(zé)起草單位:信息產(chǎn)業(yè)部專用材料質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)中心。 本標(biāo)準(zhǔn)主要起草人:馬農(nóng)農(nóng)、何友琴、何秀坤。 |
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