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X射線光電子能譜儀檢定方法 現行

Verification method for X-ray photoelectron spectrometers

標準號：GB/T 25184-2010

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基本信息

標準號：GB/T 25184-2010
發布時間：2010-09-26
實施時間：2011-08-01
首發日期：2010-09-26
出版單位：中國標準出版社查看詳情>
起草人：王水菊、時海燕、丁訓民
出版機構：中國標準出版社
標準分類： 基礎標準與通用方法
ICS分類：化學分析
提出單位：全國微束分析標準化技術委員會表面分析分委員會
起草單位：福建光電有限公司、廈門大學固體表面物理化學國家重點實驗室
歸口單位：全國微束分析標準化技術委員會表面分析分委員會
發布部門：中華人民共和國國家質量監督檢驗檢疫總局 中國國家標準化管理委員會
主管部門：全國微束分析標準化技術委員會表面分析分委員會

標準簡介

本標準規定了X射線光電子能譜儀的檢定方法。本標準適用于使用非單色化Al或MgX射線或單色化AlX射線,且帶有濺射清潔用離子槍的X射線光電子能譜儀的檢定。

標準摘要

本標準按照GB/T1.1—2009給出的規則起草。
本標準由全國微束分析標準化技術委員會表面分析分委員會歸口。
本標準負責起草單位:福建光電有限公司、廈門大學固體表面物理化學國家重點實驗室。
本標準主要起草人:王水菊、時海燕、丁訓民。

標準目錄

前言 Ⅰ
1 范圍 1
2 規范性引用文件 1
3 符號和縮略語 1
4 方法原理與系統構成 3
5 計量單位與技術指標 4
6 檢定環境 5
7 檢定項目與方法 5
8 報告檢定結果 22
9 檢定周期 22

替代情況

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引用標準

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本標準相關公告

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采標情況

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