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儀器化納米壓入試驗(yàn)方法　薄膜的壓入硬度和彈性模量 現(xiàn)行

Instrumented nanoindentation test—Indentation hardness and modulus of thin film

標(biāo)準(zhǔn)號(hào)：GB/T 25898-2010

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基本信息

標(biāo)準(zhǔn)號(hào)：GB/T 25898-2010
發(fā)布時(shí)間：2011-01-10
實(shí)施時(shí)間：2011-05-01
首發(fā)日期：2011-01-10
出版單位：中國標(biāo)準(zhǔn)出版社查看詳情>
起草人：王秀芳、張?zhí)┤A、宋洪偉、楊曉萍、楊榮、郇勇
出版機(jī)構(gòu)：中國標(biāo)準(zhǔn)出版社
標(biāo)準(zhǔn)分類： 物理學(xué)與力學(xué)
ICS分類：機(jī)械試驗(yàn)
提出單位：中國科學(xué)院
起草單位：王秀芳、張?zhí)┤A、宋洪偉、楊曉萍、楊榮、郇勇
歸口單位：全國納米技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)(SAC/TC 279)
發(fā)布部門：國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局 國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)
主管部門：全國納米技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)(SAC/TC 279)

標(biāo)準(zhǔn)簡介

本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了測試薄膜壓入硬度和彈性模量的儀器化納米壓入試驗(yàn)方法。本標(biāo)準(zhǔn)適用于附著在固體表面的薄膜。壓入方向?yàn)榇怪庇谠嚇颖砻娣较?壓入深度范圍通常在納米量級(jí),也可以擴(kuò)展至幾微米。

標(biāo)準(zhǔn)摘要

請注意本標(biāo)準(zhǔn)的某些內(nèi)容有可能涉及專利。本標(biāo)準(zhǔn)的發(fā)布機(jī)構(gòu)不應(yīng)承擔(dān)識(shí)別這些專利的責(zé)任。
本標(biāo)準(zhǔn)由中國科學(xué)院提出。
本標(biāo)準(zhǔn)由全國納米技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)(SAC/TC279)歸口。
本標(biāo)準(zhǔn)起草單位:寶山鋼鐵股份有限公司、中國科學(xué)院力學(xué)研究所。
本標(biāo)準(zhǔn)主要起草人:王秀芳、張?zhí)┤A、宋洪偉、楊曉萍、楊榮、郇勇。

標(biāo)準(zhǔn)目錄

前言 Ⅰ
引言 Ⅱ
1 范圍 1
2 規(guī)范性引用文件 1
3 術(shù)語和定義、符號(hào) 1
4 測試原理 1
5 測試要求 2
6 測試程序 2
7 結(jié)果分析 5
8 試驗(yàn)報(bào)告 9
參考文獻(xiàn) 10

替代情況

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引用標(biāo)準(zhǔn)

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