半導體器件 集成電路 第4部分：接口集成電路 第一篇：線性數字/模擬轉換器(DAC)空白詳細規范 現行
Semiconductor devices--Integrated circuits--Part 4:Interface integrated circuits--Section 1:Bland detail specification for linear digital-to-analogue converters (DAC)
標準號：GB/T 18500.1-2001
基本信息
標準號：GB/T 18500.1-2001
發布時間：2001-01-01
實施時間：2002-06-01
首發日期：2001-11-05
出版單位：中國標準出版社查看詳情>
起草人：
出版機構：中國標準出版社
標準分類： 半導體集成電路
ICS分類：集成電路、微電子學
起草單位：信息產業部電子工業標準化研究所
歸口單位：全國半導體器件標準化技術委員會
發布部門：中華人民共和國國家質量監督檢驗檢疫總局
主管部門：信息產業部（電子）
標準簡介
IEC電子器件質量評定體系遵循IEC的章程并在IEC授權下進行工作。該體系的目的是確定質量評定程序，以這種方式使一個參加國按有關規范要求放行的電子器件無需進一步試驗而為其所有參加國同樣接受。本空白詳細規范是半導體器件的一系列空白詳細規范之一，并且與下列IEC標準一起使用。IEC 747-10/QC 700000 半導體器件 第10部分：分立器件和集成電路總規范IEC 748-11/QC 790100 半導體器件 集成電路 第11部分：半導體集成電路（不包括混合電路）分規范
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